陶瓷管座封装是IC芯片与微系统芯片的常见封装形式。其基本工艺流程为:
1) 划片
2) 在陶瓷基板上涂胶、贴片
3) 引线键合前清洗
4) 引线键合
5) 封帽
6) 可靠性测试
下面按照设计规范、操作流程、检验标准与检验实例三部分介绍。
1. 设计规范
(1)划片设计规范
Ø圆片尺寸:最大8英寸。
Ø划片槽宽度设计:普通硅片版图,槽宽大于等于100mm。键合硅片、玻璃片版图,槽宽大于等于500mm。版图图形一般最好离开划片槽边一定距离,避免划片时图形损伤。
Ø划片槽标识设计:标识应明显区别于版图图形,以便对准时能迅速准确找到划片槽。可根据需要选择不同的标识形式,如图1所示。
Ø图形步进尺寸应为10mm的整数倍,图形分布要有规律,最好步进尺寸一致。
Ø划片槽一定要贯穿整个基片,划片槽不可有交错现象。

图1. 划片槽标识设计
(2)有机胶贴片规范
描述 | 规则 |
粘接材料 | 封装专用环氧树脂 |
对准精度 | £9mm |
固化温度 | 150°C |
固化时间 | 60分钟 |
热导率(121°C) | 0.5W/mK |
电阻率 | 3.5´1015W-cm |
剪切强度 | 按国家相关标准执行 |
(3)引线键合设计规范
描述 | 规则 | |
标准 | 最小 | |
压焊块材料 | Au,Al | Au,Al |
压焊块厚度 | Al: ³5000Å Au: ³5000Å,Au下有³2000Å的粘附层,粘附层材料可以是Cr, Ni等 | Al: 5000Å Au: 5000Å,Au下有2000Å的粘附层,粘附层材料可以是Cr, Ni等 |
压焊块边长 | 100mm | 50mm |
压焊块中心间距 | 150mm | 100mm |
引线键合方式 | 铝线楔焊,金线楔焊,金丝球焊,金带焊 | |
线径 | 25mm | |
线弧高度 | 250mm | 150mm |
(4)管座与封帽规范
描述 | 规范 |
管座 | CDIP,CFP,CQFP,LCCC |
封帽方式 | 有机胶粘接 平行缝焊 |
平行缝焊管座 | CFP F-16 (其他型号管座须提供夹具) |
平行缝焊盖板 | 0.1mm厚 |
(5)可靠性测试规范
Ø引线强度测试:³3克力
Ø平行缝焊漏率测试:采用氟油粗检和氦气精检
Ø冷热循环:按器件要求
2. 操作流程与检验标准
(1) 划片
Ø贴膜:用SEC3150贴膜机在圆片背面贴蓝膜
Ø设置刀片参数
Ø测高
Ø将样片放置在工作盘上,按C/T开启工作盘真空
Ø设置切割方式、切割形状、尺寸等参数
Ø校准基线
Ø设定切割面
Ø切割
Ø取片
(2) 管座上涂胶、贴片
Ø采用点胶机涂胶
Ø手动或半自动贴片
Ø固化:固化温度150°C,1小时
(3) 引线键合前清洗:等离子体清洗
(4) 引线键合:Westbond 747677E三用压焊机
Ø安装引线、劈刀,设置参数
Ø实验片拉力测试
Ø引线键合
(5a) 有机胶手工封帽
Ø涂胶:封装专用环氧树脂
Ø封帽
Ø固化:固化温度150°C,1小时
(5b) 平行缝焊封帽
Ø将管座与盖板放入进料箱中
Ø对进料箱抽真空/充氮气,共5个循环
Ø从工作台内打开进料箱,将管座放入夹具,盖上盖板
Ø启动机器进行平行缝焊
Ø将完成焊接的样品从工作台侧放入出料箱,关闭工作台侧的箱门
Ø打开出料箱门,取出封装后的样品。
(6)平行缝焊样品漏率测试
Ø氦气精检
在氦气下保压,压力和保压时间根据相关国家标准执行 取出样品,用氮气吹净样品表面 将样品放入氦质谱仪中 测量样品中氦气漏率,漏率应小于阈值,阈值根据相关国家标准执行
Ø氟油粗检
将芯片放入轻氟油中保压,压力为4个大气压,保压4小时 将样品放入装有重氟油的低温恒温槽中,如果出现明显的轻氟油油泡说明有漏气存在,否则即为通过测试。
(7) 环境测试(包括冷热循环、离心加速度等)
Ø将样品放入相应的试验箱中
Ø按照不同试验的试验标准设定程序
Ø按照设定试验程序执行
Ø试验结束,取出样品测试
3. 检验标准
(1) 划片:镜检
Ø划片崩边小于划片槽, 图形无损伤
(2)有机胶贴片:剪切力测试
Ø剪切力强度应达到国家相关标准
(3)引线键合
Ø检查试验片:引线拉力³3克力(f25mm金线或铝线)
(4)平行缝焊
Ø漏率达到相关国家标准
(5)环境测试:试验条件根据相关国家标准选择
陶瓷封装产业链从芯片、陶瓷封装产品(陶瓷外壳、基板及覆铜板等)、封装环节到最终封装成型的电子产品,如光通信元件、汽车ECU、激光雷达、图像传感器、功率半导体等;设备方面包括装片机、固晶机、塑封机、键合机、检测设备等;材料包括氧化铝、氮化铝、氮化硅、金属浆料、引线框架、包封材料、键合丝等;艾邦建有陶瓷封装全产业链微信群,欢迎陶瓷封装产业链上下游加入,请您识别二维码加入。
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